Refractive Index and Thickness Determination of Monolayers by Multi Mode 
Waveguide Coupled Surface Plasmons

Weisser, M.; Menges, B.; Mittler-Neher, Silvia

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

Refractive Index and Thickness Determination of Monolayers by Multi Mode Waveguide Coupled Surface Plasmons

MPG-Autoren

/persons/resource/persons48983

Weisser, M.
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

/persons/resource/persons48416

Menges, B.
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

/persons/resource/persons48442

Mittler-Neher, Silvia
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

Externe Ressourcen

Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt

Volltexte (beschränkter Zugriff)

Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.

Volltexte (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar

Ergänzendes Material (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar

Zitation

Weisser, M., Menges, B., & Mittler-Neher, S. (1999). Refractive Index and Thickness Determination of Monolayers by Multi Mode Waveguide Coupled Surface Plasmons. Sensors and Actuators B-Chemical, 56, 189-197.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-53BD-9

Zusammenfassung

Es ist keine Zusammenfassung verfügbar