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Pressure Dependence of Thickness and Refractive Index of Thin PMMA-Films Investigated by Surface Plasmon and Optical Waveguide Spectroscopy

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons48188

Kleideiter,  G.
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons48198

Knoll,  Wolfgang
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

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Zitation

Kleideiter, G., Lechner, M. D., & Knoll, W. (1999). Pressure Dependence of Thickness and Refractive Index of Thin PMMA-Films Investigated by Surface Plasmon and Optical Waveguide Spectroscopy. Macromolecular Chemistry and Physics, 200, 1028-1033.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5296-3
Zusammenfassung
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