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  Excellent performance with 100 mm² silicon drift detectors

Soltau, H., Eckhardt, R., Jaritschin, O., Jeschke, S., Lechner, P., Liebel, A., et al. (2010). Excellent performance with 100 mm² silicon drift detectors. Microscopy and Microanalysis, 16(Supplement 2), 1306-1307. doi:10.1017/S1431927610059362.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-2A9A-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-2A9B-A
Genre: Konferenzbeitrag

Dateien

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:
soltau-excellent.pdf (Zusammenfassung), 881KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
soltau-excellent.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Soltau, H, Autor
Eckhardt, R, Autor
Jaritschin, O, Autor
Jeschke, S, Autor
Lechner, P, Autor
Liebel, A, Autor
Lutz, G, Autor
Niculae, A, Autor
Schaller, G.1, Autor           
Schopper, F.1, Autor           
Simsek, A, Autor
Strüder, L.1, Autor           
Zimmer, O, Autor
Affiliations:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2010-08-01
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927610059362
Anderer: LOCALID: 786567
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2010
Veranstaltungsort: Portland, Oregon, USA
Start-/Enddatum: 2010-08-01 - 2010-08-05

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 16 (Supplement 2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1306 - 1307 Identifikator: ISSN: 1431-9276