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  Reflections on the Projection of Ions in Atom Probe Tomography

De Geuser, F., & Gault, B. (2017). Reflections on the Projection of Ions in Atom Probe Tomography. Microscopy and Microanalysis, 23(2), 238-246. doi:10.1017/S1431927616012721.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-C4B8-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-C4BC-9
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
De Geuser, Frédéric1, 2, Autor           
Gault, Baptiste3, Autor           
Affiliations:
1CNRS, SIMAP, F-38000 Grenoble, France, persistent22              
2Université Grenoble Alpes, SIMAP, F-38000 Grenoble, France, persistent22              
3Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017-02-022017-04
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927616012721
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Kurztitel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: 9 Band / Heft: 23 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 238 - 246 Identifikator: ISSN: 1431-9276
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042731793414