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  Parametric and Reduced-Order Modeling for the Thermal Analysis of Nanoelectronic Structures

Feng, L., Meuris, P., Schoenmaker, W., & Benner, P. (2016). Parametric and Reduced-Order Modeling for the Thermal Analysis of Nanoelectronic Structures. In A. Bartel, M. Clemens, M. Günther, & E. J. W. ter Maten (Eds.), Scientific Computing in Electrical Engineering (pp. 155-163). Cham: Springer International Publishing.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Feng, Lihong1, Autor           
Meuris, Peter2, Autor
Schoenmaker, Wim2, Autor
Benner, Peter1, Autor           
Affiliations:
1Computational Methods in Systems and Control Theory, Max Planck Institute for Dynamics of Complex Technical Systems, Max Planck Society, ou_1738141              
2Magwel NV, Leuven, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2016
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1007/978-3-319-30399-4_16
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Projektname : nanoCOPS - Nanoelectronic COupled Problems Solutions
Grant ID : 619166
Förderprogramm : Funding Programme 7 (FP7)
Förderorganisation : European Commission (EC)

Quelle 1

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Titel: Scientific Computing in Electrical Engineering
  Untertitel : SCEE 2014, Wuppertal, Germany, July 2014
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Bartel, Andreas, Herausgeber
Clemens, Markus, Herausgeber
Günther, Michael, Herausgeber
ter Maten, E. Jan W., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Cham : Springer International Publishing
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 155 - 163 Identifikator: ISBN: 978-3-319-30398-7

Quelle 2

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Titel: Mathematics in Industry / The European Consortium for Mathematics in Industry
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Switzerland : Springer International Publishing
Seiten: - Band / Heft: 23 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 1612-3956