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  Dynamic domain wall chirality rectification by rotating magnetic fields

Bisig, A., Mawass, M.-A., Stärk, M., Moutafis, C., Rhensius, J., Heidler, J., et al. (2015). Dynamic domain wall chirality rectification by rotating magnetic fields. Applied Physics Letters, 106(12): 122401. doi:10.1063/1.4915256.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-81DC-9 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-3CA0-7
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bisig, A.1, 2, 3, 4, 5, 6, Autor           
Mawass, M.-A.1, 5, Autor           
Stärk, M.2, 3, 4, Autor
Moutafis, C.2, 3, 4, Autor
Rhensius, J.2, 3, Autor
Heidler, J.2, 3, 4, Autor
Gliga, S.3, 7, Autor
Weigand, M.1, Autor           
Tyliszczak, T.8, Autor
Van Waeyenberge, B.9, Autor
Stoll, H.1, Autor           
Schütz, G.1, Autor           
Kläui, M.2, 3, 4, 5, Autor
Affiliations:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
2Department of Physics, University of Konstanz, 78457 Konstanz, Germany, ou_persistent22              
3Paul Scherrer Institute, 5232 Villigen PSI, Switzerland, ou_persistent22              
4Institute of Condensed Matter Physics, École Polytechnique Fédérale de Lausanne, 1015 Lausanne, Switzerland, ou_persistent22              
5Institute of Physics, Johannes Gutenberg University of Mainz, 55099 Mainz, Germany, ou_persistent22              
6IBM Research - Zurich, 8803 Rüschlikon, Switzerland, ou_persistent22              
7Laboratory for Mesoscopic Systems, Department of Materials, ETH Zurich, 8093 Zurich, Switzerland, ou_persistent22              
8Advanced Light Source, LBNL, Berkeley, California 94720, USA, ou_persistent22              
9Department of Solid State Sciences, Ghent University, 9000 Ghent, Belgium, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Abt. Schütz
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-07-272015
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 5
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.4915256
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 106 (12) Artikelnummer: 122401 Start- / Endseite: - Identifikator: Anderer: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223