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  SESAM: Exploring the frontiers of electron microscopy

Koch, C. T., Sigle, W., Höschen, R., Rühle, M., Essers, E., Benner, G., et al. (2006). SESAM: Exploring the frontiers of electron microscopy. Microscopy and Microanalysis, 12(6), 506-514.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4511-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4512-2
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Microsc. Microanal.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Koch, C. T.1, Autor           
Sigle, W.1, Autor           
Höschen, R.1, Autor           
Rühle, M.2, Autor           
Essers, E.3, Autor
Benner, G.3, Autor
Matijevic, M.3, Autor
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Emeriti, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, Saupfercheckweg 1, 69117 Heidelberg, DE, ou_904551              
3Carl Zeiss SMT NTS Div, D-73447 Oberkochen, Germany., ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Zentrum für Transmissionslektronenmikroskopie; Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006-12
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 297854
ISI: 000242478200010
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Alternativer Titel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 12 (6) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 506 - 514 Identifikator: ISSN: 1431-9276