Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  Advanced instrumentations for interface studies by electron energy-loss spectroscopy (EELS, ELNES and ESI)?

Rühle, M., Elsässer, C., Scheu, C., & Sigle, W. (2000). Advanced instrumentations for interface studies by electron energy-loss spectroscopy (EELS, ELNES and ESI)? In G. Bailey (Ed.), Microscopy and Microanalysis 2000 (pp. 188-189). New York: Springer.

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Rühle, M.1, Autor           
Elsässer, C.1, Autor           
Scheu, C.1, Autor           
Sigle, W.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 198883
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: Microscopy and Microanalysis 2000
Veranstaltungsort: Philadelphia, Pa.
Start-/Enddatum: 2000-08-13 - 2000-08-17

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Microscopy and Microanalysis 2000
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Bailey, G.W., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: New York : Springer
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 188 - 189 Identifikator: -

Quelle 2

einblenden:
ausblenden:
Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 6, Suppl. 2 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -