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  Diffraction-line broadening analysis of dislocation configurations

Vermeulen, A., Delhez, R., Keijser, T. d., & Mittemeijer, E. (2000). Diffraction-line broadening analysis of dislocation configurations. In R. Snyder, J. Fiala, & H. Bunge (Eds.), Defect and Microstructure Analysis by Diffraction (pp. 200-213). Oxford: Oxford University Press.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-374A-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-374B-6
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Vermeulen, A.C., Autor
Delhez, R., Autor
Keijser, Th.H. de, Autor
Mittemeijer, E.J.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000-01-06
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 220908
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Snyder, R.L., Herausgeber
Fiala, J., Herausgeber
Bunge, H.J., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Oxford : Oxford University Press
Seiten: 808 Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 200 - 213 Identifikator: -