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  Advances in energy-filtering transmission electron microscopy

Sigle, W., Zern, A., Hahn, K., Eigenthaler, U., & Rühle, M. (2001). Advances in energy-filtering transmission electron microscopy. Journal of Electron Microscopy, 50(6), 509-515.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3618-D Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3619-B
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Electron Microsc.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sigle, W.1, 2, Autor           
Zern, A.1, Autor           
Hahn, K.1, 2, Autor           
Eigenthaler, U.1, 3, Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
3Scientific Staff Assembly Dual Beam, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497668              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; 27-ru_2002; energy-filtering transmission electron microscopy (EFTEM); bond mapping; amorphous materials; reduced density function; aberration correction; electron diffraction.
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 24342
ISI: 000173995200013
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Electron Microscopy
  Alternativer Titel : J. Electron Microsc.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 50 (6) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 509 - 515 Identifikator: ISSN: 0022-0744