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  Schädigungsverhalten von Kupfer-Leiterbahnen unter Wechselstrombelastung

Orso, S. (2002). Schädigungsverhalten von Kupfer-Leiterbahnen unter Wechselstrombelastung. Diploma Thesis, Universität Stuttgart, Stuttgart.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-30FA-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-30FB-3
Genre: Hochschulschrift

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Orso, S.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Ehemalige Abt. Arzt; Dipl-01-ar_2002;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002-06
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: 79 p.
 Ort, Verlag, Ausgabe: Stuttgart : Universität Stuttgart
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 12566
 Art des Abschluß: Diplom

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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