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  Towards a Quality Metric for Dense Light Fields

Adhikarla, V. K., Vinkler, M., Sumin, D., Mantiuk, R., Myszkowski, K., Seidel, H.-P., et al. (in press). Towards a Quality Metric for Dense Light Fields. In 30th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition. Piscataway, NJ: IEEE.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-E476-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-E478-0
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Adhikarla, Vamsi Kiran1, Autor           
Vinkler, Marek1, Autor           
Sumin, Denis1, Autor           
Mantiuk, Rafał2, Autor           
Myszkowski, Karol1, Autor           
Seidel, Hans-Peter1, Autor           
Didyk, Piotr1, Autor           
Affiliations:
1Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society, ou_40047              
2External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-12-052017
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: BibTex Citekey: Vamsi2017
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 30th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition
Veranstaltungsort: Honolulu, HI, USA
Start-/Enddatum: 2017-07-21 - 2017-07-26

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 30th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition
  Kurztitel : CVPR 2017
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Piscataway, NJ : IEEE
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -