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  Phase-shifting point-diffraction interferometry with common-path and in-line configuration for microscopy

Gao, P., Harder, I., Nercissian, V., Mantel, K., & Yao, B. (2010). Phase-shifting point-diffraction interferometry with common-path and in-line configuration for microscopy. OPTICS LETTERS, 35(5), 712-714.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Gao, Peng1, Autor
Harder, Irina2, Autor           
Nercissian, Vanusch2, Autor           
Mantel, Klaus2, Autor           
Yao, Baoli1, Autor
Affiliations:
1external, ou_persistent22              
2Optical Design and Microoptics, Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364704              

Inhalt

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Schlagwörter: LATERAL SHEARING INTERFEROMETER; GRATING INTERFEROMETER; DYNAMICSOptics;
 Zusammenfassung: A new common-path and in-line point-diffraction interferometer for quantitative phase microscopy is proposed. The interferometer is constructed by introducing a grating pair into the point-diffraction interferometer, thus forming a common-path and in-line configuration for object and reference waves. Achromatic phase shifting is implemented by linearly moving one of the two gratings in its grating vector direction. The feasibility of the proposed configuration is demonstrated by theoretical analysis and experiments. (C) 2010 Optical Society of America

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 3
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: ISI: 000275826700033
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: OPTICS LETTERS
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: 2010 MASSACHUSETTS AVE NW, WASHINGTON, DC 20036 USA : OPTICAL SOC AMER
Seiten: - Band / Heft: 35 (5) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 712 - 714 Identifikator: ISSN: 0146-9592