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  Efficient Learning of Image Super-resolution and Compression Artifact Removal with Semi-local Gaussian Processes

Kwon, Y., Kim, K. I., Tompkin, J., Kim, J. H., & Theobalt, C. (2015). Efficient Learning of Image Super-resolution and Compression Artifact Removal with Semi-local Gaussian Processes. IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, 37(9), 1792-1805. doi:10.1109/TPAMI.2015.2389797.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-AF0A-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-5279-2
Genre: Zeitschriftenartikel
Latex : Efficient Learning of Image Super-resolution and Compression Artifact Removal with Semi-local {G}aussian Processes

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kwon, Younghee1, Autor
Kim, Kwang In1, Autor           
Tompkin, James1, Autor           
Kim, Jin Hyung1, Autor
Theobalt, Christian2, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society, ou_40047              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-01-092015
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: BibTex Citekey: Kwon:2014:TPAMI
DOI: 10.1109/TPAMI.2015.2389797
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence
  Andere : IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Los Alamitos, CA : IEEE Computer Society
Seiten: - Band / Heft: 37 (9) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1792 - 1805 Identifikator: ISSN: 0162-8828
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925479551