Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles 
prepared using focused ion beam milling

Volkert, C. A.; Busch, S.; Heiland, B.; Dehm, G.

doi:10.1111/j.0022-2720.2004.01352.x

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Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles prepared using focused ion beam milling

Volkert, C. A., Busch, S., Heiland, B., & Dehm, G. (2004). Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles prepared using focused ion beam milling. Journal of Microscopy, 214, 208-212. doi:10.1111/j.0022-2720.2004.01352.x.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-2DE6-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0018-BE98-B

資料種別: 学術論文

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Volkert, C. A., 著者
Busch, S.¹, 著者
Heiland, B., 著者
Dehm, G., 著者

所属:
1Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863404

内容説明

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キーワード: apatite; FIB; focused ion beam milling; TEM sample preparation; tooth enamel; ultramicrotomy

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2004-06

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 220192
ISI: 000221536000002
DOI: 10.1111/j.0022-2720.2004.01352.x

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Microscopy

出版物の別名 : J. Microsc.-Oxf.

種別: 学術雑誌

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 214 通巻号: - 開始・終了ページ: 208 - 212 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0022-2720

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