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Transmission Electron Microscopy and High-Resolution Electron Microscopy Investigation of the Microstructure of an YNi₂B₂C Thin Film

Cao, G. H., Skrotzki, W., Simon, P., Wimbush, S. C., & Holzapfel, B. (2005). Transmission Electron Microscopy and High-Resolution Electron Microscopy Investigation of the Microstructure of an YNi₂B₂C Thin Film. Chemistry of Materials, 17, 3558-3562. doi:10.1021/cm050006t.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-2CC3-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-EC7B-1

Genre: Zeitschriftenartikel

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Urheber

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Urheber:
Cao, G. H., Autor
Skrotzki, W., Autor
Simon, P.¹, Autor
Wimbush, S. C., Autor
Holzapfel, B., Autor

Affiliations:
1Paul Simon, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863418

Inhalt

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 2005

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 241958
DOI: 10.1021/cm050006t

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

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Titel: Chemistry of Materials

Genre der Quelle: Zeitschrift

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Affiliations:

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Seiten: - Band / Heft: 17 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3558 - 3562 Identifikator: -