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  Probing of Optical Near-Fields by Electron Rescattering on the 1 nm Scale

Thomas, S., Krüger, M., Förster, M., Schenk, M., & Hommelhoff, P. (2013). Probing of Optical Near-Fields by Electron Rescattering on the 1 nm Scale. Nano Letters, 13(10), 4790-4794. doi:10.1021/nl402407r.

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4684.pdf (Verlagsversion), 2MB
 
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4684.pdf
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OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute of Quantum Optics, MGQO; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
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Copyright Info:
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Lizenz:
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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Thomas , Sebastian1, Autor
Krüger, Michael1, Autor           
Förster, Michael1, Autor           
Schenk, Markus1, Autor           
Hommelhoff, Peter1, Autor           
Affiliations:
1Ultrafast Quantum Optics, Laser Spectroscopy, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445577              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2013-09-052013-07-012013-09-132013-10
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nano Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
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Ort, Verlag, Ausgabe: Washington, DC : American Chemical Society
Seiten: - Band / Heft: 13 (10) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 4790 - 4794 Identifikator: ISSN: 1530-6984
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/110978984570403