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  Ultrafast reciprocal-space mapping with a convergent beam

Schick, D., Shayduk, R., Bojahr, A., Herzog, M., von Schmising, C. K., Gaal, P., et al. (2013). Ultrafast reciprocal-space mapping with a convergent beam. Journal of Applied Crystallography, 46(5), 1372-1377. doi:10.1107/S0021889813020013.

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RecipSpaceMap.pdf (beliebiger Volltext), 340KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
RecipSpaceMap.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt ( Max Planck Society (every institute); )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
2013
Copyright Info:
IUCr
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schick, Daniel1, Autor
Shayduk, Roman2, Autor
Bojahr, André1, Autor
Herzog, Marc1, 3, Autor           
von Schmising, Clemens Korff4, Autor
Gaal, Peter2, Autor
Bargheer, Matias1, 2, Autor
Affiliations:
1Institut für Physik and Astronomie, Universität Potsdam, Karl-Liebknecht-Strasse 24-25, 14476 Potsdam, Germany, ou_persistent22              
2Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Wilhelm-Conrad-Röntgen Campus, BESSY II, Albert-Einstein-Strasse 15, 12489 Berlin, Germany, ou_persistent22              
3Physical Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634546              
4Institut für Optik und Atomare Physik, Technische Universität Berlin, Strasse des 17 Juni 135, 10623 Berlin, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: reciprocal-space mapping;time-resolved X-ray diffraction;convergent beams;resolution functions;plasma X-ray sources
 Zusammenfassung: A diffractometer setup is presented, based on a laser-driven plasma X-ray source for reciprocal-space mapping with femtosecond temporal resolution. In order to map out the reciprocal space, an X-ray optic with a convergent beam is used with an X-ray area detector to detect symmetrically and asymmetrically diffracted X-ray photons simultaneously. The setup is particularly suited for measuring thin films or imperfect bulk samples with broad rocking curves. For quasi-perfect crystalline samples with insignificant in-plane Bragg peak broadening, the measured reciprocal-space maps can be corrected for the known resolution function of the diffractometer in order to achieve high-resolution rocking curves with improved data quality. In this case, the resolution of the diffractometer is not limited by the convergence of the incoming X-ray beam but is solely determined by its energy bandwidth.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013-05-242013-07-192013-10
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 6
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1107/S0021889813020013
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Crystallography
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Oxford, England : Blackwell Publishing on behalf of the International Union of Crystallography
Seiten: - Band / Heft: 46 (5) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1372 - 1377 Identifikator: ISSN: 0021-8898
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925410812