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DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  TEM foil preparation of sub-micrometre sized individual grains by focused ion beam technique

Holzapfel, C., Soldera, F., Vollmer, C., Hoppe, P., & Mücklich, F. (2009). TEM foil preparation of sub-micrometre sized individual grains by focused ion beam technique. Journal of Microscopy-Oxford, 235(1), 59-66.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Microsc.-Oxf.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Holzapfel, C., Autor
Soldera, F., Autor
Vollmer, C.1, Autor           
Hoppe, P.1, Autor           
Mücklich, F., Autor
Affiliations:
1Particle Chemistry, Max Planck Institute for Chemistry, Max Planck Society, ou_1826291              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009-07
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 436647
ISI: 000267172600006
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Microscopy-Oxford
  Alternativer Titel : J. Microsc.-Oxf.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 235 (1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 59 - 66 Identifikator: ISSN: 0022-2720