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  Alignment of Transmission-Electron-Microscopy Images Aqcuired During a Tilt-Series by Tracking Fiducial Markers

Stockmeier, K. (2000). Alignment of Transmission-Electron-Microscopy Images Aqcuired During a Tilt-Series by Tracking Fiducial Markers.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0013-E42A-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0013-E42B-3
Genre: Sonstige

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Stockmeier, K1, Autor           
Affiliations:
1Department Human Perception, Cognition and Action, Max Planck Institute for Biological Cybernetics, Max Planck Society, ou_1497797              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2000-11
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: BibTex Citekey: 1326
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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