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  Macro Defect Inspection of TFT-LCD Color Filter Glass: System and Algorithm

Son, H., Kim HW, Lee, H., & Jeong, D. (2005). Macro Defect Inspection of TFT-LCD Color Filter Glass: System and Algorithm. In EOS Conference on Industrial Imaging and Machine Vision (pp. 129-130). Hannover, Germany: European Optical Society.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0013-D561-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0013-D562-D
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Son, HI1, Autor           
Kim HW, Lee, HH, Autor
Jeong, DH, Autor
Affiliations:
1Department Human Perception, Cognition and Action, Max Planck Institute for Biological Cybernetics, Max Planck Society, ou_1497797              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2005-06
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: ISBN: 3-00-016361-1
BibTex Citekey: 6466
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: EOS Conference on Industrial Imaging and Machine Vision
Veranstaltungsort: München, Germany
Start-/Enddatum: -

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: EOS Conference on Industrial Imaging and Machine Vision
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Hannover, Germany : European Optical Society
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 129 - 130 Identifikator: -