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  Exact I/O-linearization of chemical processes within a plant-wide quality control framework

Storz, M., & Gilles, E. D. (1995). Exact I/O-linearization of chemical processes within a plant-wide quality control framework. In Proceedings of the 1995 American Control Conference: Vol. 1 (pp. 235-239). Piscataway: IEEE Service Center.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0013-A3DE-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-3BA2-2
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Storz, M., Autor
Gilles, Ernst Dieter1, Autor           
Affiliations:
1Other publications of the MPI staff, Max Planck Institute for Dynamics of Complex Technical Systems, Max Planck Society, ou_1738149              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1995
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 118237
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: American Control Conference ACC; 14
Veranstaltungsort: Seattle, USA
Start-/Enddatum: 1995-06-21 - 1995-06-23

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 1995 American Control Conference : Vol. 1
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Piscataway : IEEE Service Center
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 235 - 239 Identifikator: -