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  Controlling the work function of ZnO and the energy-level alignment at the interface to organic semiconductors with a molecular electron acceptor

Schlesinger, R., Xu, Y., Hofmann, O. T., Winkler, S., Frisch, J., Niederhausen, J., et al. (2013). Controlling the work function of ZnO and the energy-level alignment at the interface to organic semiconductors with a molecular electron acceptor. Physical Review B, 87(15): 155311. doi:10.1103/PhysRevB.87.155311.

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:
PhysRevB.87.155311.pdf (Verlagsversion), 2MB
Name:
PhysRevB.87.155311.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
2013
Copyright Info:
APS
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schlesinger, Raphael1, Autor
Xu, Yong2, Autor           
Hofmann, Oliver T.2, Autor           
Winkler, Stefanie3, Autor
Frisch, Johannes1, Autor
Niederhausen, Jens1, Autor
Vollmer, Antje3, Autor
Blumstengel, Sylke1, Autor
Henneberger, Fritz1, Autor
Rinke, Patrick2, Autor           
Scheffler, Matthias2, Autor           
Koch, Norbert1, 3, Autor
Affiliations:
1Institut für Physik, Humboldt-Universität zu Berlin,, 12489 Berlin, Germany, ou_persistent22              
2Theory, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634547              
3Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH- BESSY II, 12489 Berlin, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We show that the work function (Φ) of ZnO can be increased by up to 2.8 eV by depositing the molecular electron acceptor 2,3,5,6-tetrafluoro-7,7,8,8-tetracyanoquinodimethane (F4TCNQ). On metals, already much smaller Φ increases involve significant charge transfer to F4TCNQ. No indication of negatively charged F4TCNQ on ZnO is found by photoemission spectroscopy. This fundamental difference is explained by a simple electrostatic model that identifies the bulk doping and band bending in ZnO as key parameters. Varying Φ of the inorganic semiconductor enables tuning the energy-level alignment at ZnO/organic semiconductor interfaces.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2012-11-042013-04-222013-04-22
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 5
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1103/PhysRevB.87.155311
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, NY : Published by the American Physical Society through the American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 87 (15) Artikelnummer: 155311 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 1098-0121
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925225008