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  Thermal properties of nanocapsules measured by scanning force microscopy methods

Kaule, T., Hamberger, A., Zhang, Y., Landfester, K., Butt, H.-J., & Berger, R. (2012). Thermal properties of nanocapsules measured by scanning force microscopy methods. Microelectronic Engineering, 97, 223-226.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000E-B0AD-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000E-B0AF-0
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kaule, T.1, Autor           
Hamberger, A.1, Autor           
Zhang, Y.1, Autor           
Landfester, Katharina1, Autor           
Butt, Hans-Jürgen1, Autor           
Berger, Rüdiger1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2012
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: Anderer: P-12-245
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microelectronic Engineering
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Amsterdam : Elsevier
Seiten: - Band / Heft: 97 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 223 - 226 Identifikator: ISSN: 0167-9317
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925484690