Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

 
 
DownloadE-Mail
  In-situ atomic resolution high-voltage electron microscopy

Phillipp, F., Lee, S. B., & Merkle, K. L. (2004). In-situ atomic resolution high-voltage electron microscopy. In Proceedings of the 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM) (pp. 653-654). Japanese Society for Electron Microscopy.

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Phillipp, F.1, Autor           
Lee, S. B.1, Autor           
Merkle, K. L.2, Autor
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Materials Sciende Division, Argonne National Laboratory, Argonne, Illinois, USA, ou_persistent22              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Ehem. Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 2
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM)
Veranstaltungsort: Kanzawa, Japan
Start-/Enddatum: 2004-06-07 - 2004-06-11

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Proceedings of the 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM)
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Japanese Society for Electron Microscopy
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 653 - 654 Identifikator: -