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  Assessing Charge Carrier Trapping in Silicon Nanowires Using Picosecond Conductivity Measurements

Ulbricht, R., Kurstjens, R., & Bonn, M. (2012). Assessing Charge Carrier Trapping in Silicon Nanowires Using Picosecond Conductivity Measurements. Nano Letters, 12(7), 3821-3827.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Ulbricht, R., Autor
Kurstjens, R., Autor
Bonn, Mischa1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2012
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: Anderer: P-12-188
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nano Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Washington, DC : American Chemical Society
Seiten: - Band / Heft: 12 (7) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3821 - 3827 Identifikator: ISSN: 1530-6984
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/110978984570403