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  High-resolution transmission-electron-microscopy study of ultrathin Al-induced crystallization of amorphous Si

Wang, Z., Jeurgens, L. P. H., Wang, J. Y., Phillipp, F., & Mittemeijer, E. J. (2009). High-resolution transmission-electron-microscopy study of ultrathin Al-induced crystallization of amorphous Si. Journal of Materials Research, 24(11), 3294-3299. doi:10.1557/JMR.2009.0404.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-7615-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-7616-E
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Mater. Res.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wang, Z.1, Autor           
Jeurgens, L. P. H.1, Autor           
Wang, J. Y.1, Autor           
Phillipp, F.2, Autor
Mittemeijer, E. J.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497669              
3Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009-11
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 438876
DOI: 10.1557/JMR.2009.0404
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Research
  Alternativer Titel : J. Mater. Res.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 24 (11) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3294 - 3299 Identifikator: -