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  X-ray/atomic force microscopy study of the temperature-dependent multilayer structure of PTCDI-C8 films on SiO2

Krauss, T. N., Barrena, E., de Oteyza, D. G., Zhang, X. N., Major, J., Dehm, V., et al. (2009). X-ray/atomic force microscopy study of the temperature-dependent multilayer structure of PTCDI-C8 films on SiO2. Journal of Physical Chemistry C, 113(11), 4502-4506. doi:10.1021/jp808037w.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Krauss, T. N.1, Autor           
Barrena, E.1, Autor           
de Oteyza, D. G.1, Autor           
Zhang, X. N.1, Autor
Major, J.1, Autor           
Dehm, V.2, Autor
Würthner, F.2, Autor
Dosch, H.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
2Institut für Theoretische und Angewandte Physik, Pfaffenwaldring 57, 70550 Stuttgart, Germany;Institut für Organische Chemie, Am Hubland, Universität Würzburg, 97074 Würzburg, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch/Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009-02-20
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 415185
DOI: 10.1021/jp808037w
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Physical Chemistry C
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 113 (11) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 4502 - 4506 Identifikator: -