Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  Comparative-study of a regular protein layer by scanning tunneling microscopy and transmission electron-microscopy

Amrein, M., Wang, Z., & Guckenberger, R. (1991). Comparative-study of a regular protein layer by scanning tunneling microscopy and transmission electron-microscopy. Journal of Vacuum Science & Technology B-Microelectronics Processing and Phenomena, 9(N2), 1276-1281.

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Amrein, M., Autor
Wang, Z., Autor
Guckenberger, R.1, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: BIO
 Zusammenfassung: M

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n):
 Datum: 1991
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 318690
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Journal of Vacuum Science & Technology B-Microelectronics Processing and Phenomena
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 9 (N2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1276 - 1281 Identifikator: -