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  Towards SNIM: Scanning Near-field Microscopy in the Infrared

Keilmann, F. (1996). Towards SNIM: Scanning Near-field Microscopy in the Infrared. In Garcia, M. Nieto-Vesperinas, & N. (Eds.), Optics at the Nanometer Scale (pp. 235-245). IBM, Netherlands.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-731F-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-7320-C
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Keilmann, F.1, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1996
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 318513
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Optics at the Nanometer Scale
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Garcia, Herausgeber
Nieto-Vesperinas, M., Herausgeber
N., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: IBM, Netherlands
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 235 - 245 Identifikator: -