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  Infrared conductivity mapping for nanoelectronics

Knoll, B., & Keilmann, F. (2000). Infrared conductivity mapping for nanoelectronics. Applied Physics Letters, 77(24), 3980-3982.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-7185-9 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-7186-7
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Knoll, B., Autor
Keilmann, F.1, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Microscopy; Resolution.; Applied Physics/Condensed Matter/Materials Science in Current Contents(R)/Physical, Chemical & Earth Sciences.; SNOM-XSAMP; S-SNOM
 Zusammenfassung: near and field and microscop backsearch

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 318618
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 77 (24) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3980 - 3982 Identifikator: -