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  Material-specific mapping of metal/semiconductor/dielectric nanosystems at 10 nm resolution by backscattering near-field optical microscopy

Hillenbrand, R., & Keilmann, F. (2002). Material-specific mapping of metal/semiconductor/dielectric nanosystems at 10 nm resolution by backscattering near-field optical microscopy. Applied Physics Letters, 80(1), 25-27.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hillenbrand, R.1, Autor           
Keilmann, F.1, Autor           
Affiliations:
1Baumeister, Wolfgang / Molecular Structural Biology, Max Planck Institute of Biochemistry, Max Planck Society, ou_1565142              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We report that three main constituents of nanosystems-metals, semiconductors, and dielectrics-can be categorically distinguished by their specific optical near-field contrast at 633 nm wavelength. The decisive property is the local dielectric constant as we show by calculations based on dipolar coupling theory. Experiments with Au/Si/PS(polystyrene) nanostructures using an apertureless scattering-type near-field optical microscope yield optical images at 10 nm resolution, with clear material contrast close to predicted levels. (C) 2002 American Institute of Physics.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002-01-07
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 35022
ISI: 000173029000009
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 80 (1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 25 - 27 Identifikator: ISSN: 0003-6951