Abbildung der strukturellen Eigenschaften von SiC mittels IR Nahfeldmikroskopie

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Abbildung der strukturellen Eigenschaften von SiC mittels IR Nahfeldmikroskopie

Huber, A. (2005). Abbildung der strukturellen Eigenschaften von SiC mittels IR Nahfeldmikroskopie. Diploma Thesis, Technische Universität, München.

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-677A-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-677B-0

Genre: Hochschulschrift

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Urheber:
Huber, Andreas¹, Autor

Affiliations:
1Baumeister, Wolfgang / Molecular Structural Biology, Max Planck Institute of Biochemistry, Max Planck Society, ou_1565142

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Sprache(n):

Datum: Angenommen: 2005

Publikationsstatus: Angenommen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: München : Technische Universität

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 271906

Art des Abschluß: Diplom

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