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  Nanoscale residual stress-field mapping around nanoindents in SiC by IR s-SNOM and confocal Raman microscopy

Gigler, A. M., Huber, A. J., Bauer, M., Ziegler, A., Hillenbrand, R., & Stark, R. W. (2009). Nanoscale residual stress-field mapping around nanoindents in SiC by IR s-SNOM and confocal Raman microscopy. Optics Express, 17(25), 22351-22357.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-5831-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-5832-1
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Opt. Express

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Gigler, A. M., Autor
Huber, A. J.1, Autor           
Bauer, M.2, Autor           
Ziegler, A.1, Autor           
Hillenbrand, R.1, Autor           
Stark, R. W., Autor
Affiliations:
1Baumeister, Wolfgang / Molecular Structural Biology, Max Planck Institute of Biochemistry, Max Planck Society, ou_1565142              
2External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009-12-07
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 442248
ISI: 000272761300009
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Optics Express
  Alternativer Titel : Opt. Express
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 17 (25) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 22351 - 22357 Identifikator: ISSN: 1094-4087