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  Characterization of chemical composition and electronic structure of Pt/YSZ interfaces by analytical transmission electron microscopy

Srot, V., Watanabe, M., Scheu, C., van Aken, P. A., Salzberger, U., Luerßen, B., et al. (2010). Characterization of chemical composition and electronic structure of Pt/YSZ interfaces by analytical transmission electron microscopy. Solid State Ionics, 181(35-36), 1616-1622. doi:10.1016/j.ssi.2010.08.026.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Srot, V.1, Autor           
Watanabe, M., Autor           
Scheu, C., Autor           
van Aken, P. A.1, Autor           
Salzberger, U.1, Autor           
Luerßen, B.2, Autor
Janek, J.2, Autor
Rühle, M.3, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Department of Materials Science & Engineering, Lehigh University, 5 E. Packer Ave., Bethlehem, PA18015, USA;Department of Chemistry, Ludwig-Maximilians-University of Munich, Butenandtstr. 5-13 (E), 81377 Munich, Germany;Institute of Physical Chemistry, Justus-Liebig-University Gießen, Heinrich-Buff-Ring 58, 35392 Gießen, Germany., ou_persistent22              
3Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497645              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Abt. Dosch/Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 548066
DOI: 10.1016/j.ssi.2010.08.026
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Solid State Ionics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 181 (35-36) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1616 - 1622 Identifikator: -