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  Evolution of microstructure and stress of and associated whisker growth on Sn layers sputter-deposited on Cu substrates

Sobiech, M., Krüger, C., Welzel, U., Wang, J. Y., Mittemeijer, E. J., & Hügel, W. (2010). Evolution of microstructure and stress of and associated whisker growth on Sn layers sputter-deposited on Cu substrates. Journal of Materials Research, 25, 2166-2174.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sobiech, M.1, Autor           
Krüger, C.1, Autor           
Welzel, U.1, Autor           
Wang, J. Y.1, Autor           
Mittemeijer, E. J.1, 2, Autor           
Hügel, W., Autor
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 531994
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Research
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 25 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2166 - 2174 Identifikator: -