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  Precise determination of the irrational preffered interface orientation by TEM

Meng, Y., Gu, L., & Zhang, W. (2010). Precise determination of the irrational preffered interface orientation by TEM. Acta Metallurgica Sinica, 46(4), 411-417. doi:10.3724/SP.J.1037.2009.00577.

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Urheber

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 Urheber:
Meng, Y.1, Autor           
Gu, L.1, Autor           
Zhang, W.2, Autor
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Laboratory of Advanced Materials, Department of Materials Science and Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084., ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): zho - Chinese
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 525508
DOI: 10.3724/SP.J.1037.2009.00577
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Acta Metallurgica Sinica
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 46 (4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 411 - 417 Identifikator: -