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  Quantitative X-ray diffraction analysis and modeling of the crystallization process in amorphous Si-B-C-N polymer derived ceramics

Tavakoli, A. H., Gerstel, P., Golczewski, J. A., & Bill, J. (2010). Quantitative X-ray diffraction analysis and modeling of the crystallization process in amorphous Si-B-C-N polymer derived ceramics. Journal of the American Ceramic Society, 93, 1470-1478. doi:10.1111/j.1551-2916.2009.03591.x.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4F6B-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4F6C-0
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Am. Ceram. Soc.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Tavakoli, A. H.1, Autor           
Gerstel, P.1, Autor           
Golczewski, J. A.1, Autor           
Bill, J.2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Materials Synthesis and Microstructure Design, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497654              
2Universität Stuttgart, Institut für Nichtmetallische Anorganische Materialien, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Aldinger;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010-05
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 534112
DOI: 10.1111/j.1551-2916.2009.03591.x
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of the American Ceramic Society
  Alternativer Titel : J. Am. Ceram. Soc.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 93 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1470 - 1478 Identifikator: -