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  Low-dose strain mapping by dark-field inline electron holography

Özdöl, V. B., Koch, C. T., & van Aken, P. A. (2011). Low-dose strain mapping by dark-field inline electron holography. Microscopy and Microanalysis, 17, Suppl. 2, 1228-1229.

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Basisdaten

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Genre: Konferenzbeitrag
Alternativer Titel : Microsc.Microanal.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Özdöl, V. B.1, Autor           
Koch, C. T.1, 2, Autor           
van Aken, P. A.1, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 609590
DOI: 10.1017/S143192761100701X
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2011
Veranstaltungsort: Nashville, Tennessee
Start-/Enddatum: 2011-08-07 - 2011-08-11

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Alternativer Titel : Microsc.Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 17, Suppl. 2 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1228 - 1229 Identifikator: -