Characterization of strained semiconductor structures using transmission 
electron microscopy

Özdöl, V. B.

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Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy

Özdöl, V. B. (2011). Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy. PhD Thesis, Christian-Abrechts-Universität zu Kiel, Kiel.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4C83-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-39DC-1

資料種別: 学位論文

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Özdöl, V. B.¹, 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 受理: 2011-07-25

出版の状態: 受理 / 印刷中

ページ: 118 pages

出版情報: Kiel : Christian-Abrechts-Universität zu Kiel

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 580542
URI: http://macau.uni-kiel.de/servlets/MCRFileNodeServlet/dissertation_derivate_00003953/Burak_Ozdol_Thesis_Final_Vrs.pdf?hosts=
URN: urn:nbn:de:gbv:8-diss-68563

学位: 博士号 (PhD)

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