Ruddlesden-Popper type faults in LaNiO3/LaAlO3

Detemple, E.; Ramasse, Q.; Sigle, W.; Cristiani, G.; Habermeier, H.-U.; Keimer, B.; van Aken, P. A.

Ruddlesden-Popper type faults in LaNiO₃/LaAlO₃

Detemple, E., Ramasse, Q., Sigle, W., Cristiani, G., Habermeier, H.-U., Keimer, B., & van Aken, P. A. (2012). Ruddlesden-Popper type faults in LaNiO₃/LaAlO₃. In J., Heber, D., Schlom, Y., Tokura, R., Waser, & M., Wuttig (Eds.), Frontiers in Electronic Materials (pp. 138-139). Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag & Co. KGaA.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4B9D-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4B9E-F

資料種別: 会議論文

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Detemple, E.¹, 著者
Ramasse, Q.², 著者
Sigle, W.^{1, 3}, 著者
Cristiani, G.⁴, 著者
Habermeier, H.-U.⁴, 著者
Keimer, B.⁴, 著者
van Aken, P. A.¹, 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
2SuperStem Laboratory, STFC Daresbury, Warrington, UK., ou_persistent22
3Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
4Max Planck Society, ou_persistent13

内容説明

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; MPI für Festkörperforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Keimer;

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2012

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 611377

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Frontiers in Electronic Materials

種別: 会議論文集

著者・編者:
Heber, Joerg, 編集者
Schlom, Darrell, 編集者
Tokura, Yoshiniro, 編集者
Waser, Rainer, 編集者
Wuttig, Matthias, 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag & Co. KGaA

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 138 - 139 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISBN: 978-3-527-41191-7

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