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  Structural and chemical characterization on the nanoscale

Stierle, A., Carstanjen, H.-D., & Hofmann, S. (2012). Structural and chemical characterization on the nanoscale. In R. Waser (Ed.), Nanoelectronics and Information Technology. Advanced Electronic Materials and Novel Devices (pp. 233-254). Weinheim: Wiley-VCH.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4AFA-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4AFB-1
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Stierle, A.1, Autor           
Carstanjen, H.-D.2, 3, Autor           
Hofmann, S.4, Autor           
Affiliations:
1Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651              
2Former Central Scientific Facility Pelletron Accelerator, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497653              
3Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
4Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2012
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 574227
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nanoelectronics and Information Technology. Advanced Electronic Materials and Novel Devices
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Waser, Rainer, Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Weinheim : Wiley-VCH
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 233 - 254 Identifikator: -