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  Analysis of the diffusion profile along migrating grain boundaries

Lopez, G. A., Zieba, P., Sigle, W., & Mittemeijer, E. J. (2005). Analysis of the diffusion profile along migrating grain boundaries. Defect and Diffusion Forum, 237-240, 1230-1233.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4981-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4982-6
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Lopez, G. A.1, Autor           
Zieba, P.2, Autor
Sigle, W.3, 4, Autor           
Mittemeijer, E. J.1, 5, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Institute of Metallurgy and Materials Science, Polish Academy of Sciences, Cracow, Poland, ou_persistent22              
3Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
4Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
5Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2005
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 332660
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Defect and Diffusion Forum
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 237-240 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1230 - 1233 Identifikator: -