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  Requisites for ultimate energy resolution EELS and band gap measurements

Essers, E., Höschen, R., Matijevic, M., Benner, G., & Koch, C. T. (2006). Requisites for ultimate energy resolution EELS and band gap measurements. Microscopy and Microanalysis, 12(Suppl. 2: Proceedings), 1148-1149.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-48A2-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-48A3-4
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Essers, E.1, Autor
Höschen, R.2, 3, Autor           
Matijevic, M.1, Autor
Benner, G.1, Autor
Koch, C. T.2, 3, Autor           
Affiliations:
1Carl Zeiss NTS GmbH, Carl-Zeiss-Straße 56, 73447 Oberkochen, Germany, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 378649
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2006
Veranstaltungsort: Chicago, IL, USA
Start-/Enddatum: 2006-07-30 - 2006-08-03

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Canbridge, UK : Cambridge University Press
Seiten: - Band / Heft: 12 (Suppl. 2: Proceedings) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1148 - 1149 Identifikator: -