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  Measuring projected potential profiles across interfaces by reconstructing the exit face wave function from through focal series images

Bhattacharyya, S., Koch, C. T., & Rühle, M. (2006). Measuring projected potential profiles across interfaces by reconstructing the exit face wave function from through focal series images. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 1138-1138). International Federation of Societies in Microscopy.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4894-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4895-4
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bhattacharyya, S., Autor           
Koch, C. T.1, Autor           
Rühle, M.2, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Emeriti and Others; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 319004
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 16th International Microscopy Congress - IMC16
Veranstaltungsort: Sapporo, Japan
Start-/Enddatum: 2006-09-03 - 2006-09-08

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: International Federation of Societies in Microscopy
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1138 - 1138 Identifikator: -