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  On the accuracy of lattice-distortion analysis directly from high-resolution transmission electron micrographs

Du, K., & Phillipp, F. (2006). On the accuracy of lattice-distortion analysis directly from high-resolution transmission electron micrographs. Journal of Microscopy, 221, 63-71.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-488A-D Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-488B-B
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Du, K.1, Autor           
Phillipp, F.2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 318197
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Microscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
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Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 221 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 63 - 71 Identifikator: -