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  Determination of projected potential profiles across interfaces using through focal series reconstruction

Bhattacharyya, S., Koch, C. T., & Rühle, M. (2006). Determination of projected potential profiles across interfaces using through focal series reconstruction. Microscopy and Microanalysis, 12(Suppl. 2: Proceedings), 1016-1017.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47EB-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47EC-A
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bhattacharyya, S., Autor           
Koch, C. T.1, Autor           
Rühle, M.2, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Emeriti and Others; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 288646
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 12 (Suppl. 2: Proceedings) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1016 - 1017 Identifikator: -