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  Strain energy effects on texture evolution in thin films: bioaxial vs. uniaxial stress state

Sonnweber-Ribic, P., Dehm, G., Gruber, P., & Arzt, E. (2006). Strain energy effects on texture evolution in thin films: bioaxial vs. uniaxial stress state. In E. Zschech (Ed.), Stress-Induced Phenomena in Metallization. 8th International Workshop (pp. 192-197). Melville, NY: American Institute of Physics.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46EB-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46EC-1
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sonnweber-Ribic, P.1, Autor           
Dehm, G.1, Autor           
Gruber, P.1, Autor           
Arzt, E.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 282449
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 8th International Workshop on Stress Induced Phenomena in Metallization
Veranstaltungsort: Dresden [Germany]
Start-/Enddatum: 2005-09-12 - 2005-09-14

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Stress-Induced Phenomena in Metallization. 8th International Workshop
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Zschech, E., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 192 - 197 Identifikator: ISBN: 0-7354-0310-4/06

Quelle 2

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Titel: AIP Conference Proceedings
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 817 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -