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  Measuring electrostatic potential profiles across amorphous intergranular films by electron diffraction

Koch, C. T., Bhattacharyya, S., Rühle, M., Satet, R., & Hoffmann, M. J. (2006). Measuring electrostatic potential profiles across amorphous intergranular films by electron diffraction. Microscopy and Microanalysis, 12, 160-169.

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Urheber

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 Urheber:
Koch, C. T.1, Autor           
Bhattacharyya, S., Autor           
Rühle, M.2, Autor           
Satet, R.3, Autor
Hoffmann, M. J.3, Autor
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              
3Institut für Keramik im Maschinenbau, UniversitätKarlsruhe (TH), D-76131 Karlsruhe, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 282009
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 12 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 160 - 169 Identifikator: -