Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Examination of structural properties of interfaces by electron diffraction

Koch, C. T. (2006). Examination of structural properties of interfaces by electron diffraction. Materials Science and Engineering A, 422, 41-50.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46B1-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46B2-1
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Mat. Sci. Eng. A

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Koch, C. T.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Zentrum für Elektronenmikroskopie;
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 282006
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Materials Science and Engineering A
  Alternativer Titel : Mat. Sci. Eng. A
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 422 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 41 - 50 Identifikator: -